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从二维到准三维的超快速成像
北京理工大学的科学家们开发了一种超快速准三维技术，克服了二维图像中信息缺失和特征不完整的缺点，允许对超快速过程的三维特征进行分析。 这项研究发表在《国际极限制造》期刊上，展示了如何基于二维信息收集实现三维特征分析。 通过垂直偏振成像，获得了高信噪比的反射透射图像，通过对比两个视点...